[1]冯元新.硅油基底Ni薄膜的生长机理及微观结构研究[J].浙江科技学院学报,2012,(01):10-14.[doi:10.3969/j.issn.1671-8798.2012.01.003]
 FENG Yuan-xin.Study on formation mechanism and microstructure of Ni films on silicone oil surfaces[J].,2012,(01):10-14.[doi:10.3969/j.issn.1671-8798.2012.01.003]
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硅油基底Ni薄膜的生长机理及微观结构研究()
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《浙江科技学院学报》[ISSN:1001-3733/CN:61-1062/R]

卷:
期数:
2012年01期
页码:
10-14
栏目:
出版日期:
2012-02-10

文章信息/Info

Title:
Study on formation mechanism and microstructure of Ni films on silicone oil surfaces
文章编号:
1671-8798(2012)01-0010-05
作者:
冯元新
浙江科技学院 理学院,杭州 310023
Author(s):
FENG Yuan-xin
School of Sciences, Zhejiang University of Science and Technology, Hangzhou 310023, China
关键词:
硅油基底成膜机理微观结构反常边缘效应
分类号:
O484.1
DOI:
10.3969/j.issn.1671-8798.2012.01.003
文献标志码:
A
摘要:
基于液相材料可用作薄膜生长基底的事实,采用真空热蒸发沉积方法,在硅油基底表面制备了具有近似自由支撑边界条件的镍(Ni)薄膜系统。在原子力显微镜(AFM)的观察下发现,镍分枝状凝聚体事实上是由尺寸为几十纳米且呈现高斯分布的原子颗粒组成,在一定的沉积速率下,其原子颗粒的平均直径随着薄膜名义厚度的增加而迅速减小;同时,还观察到了Ni薄膜的反常边缘效应,并对此现象做了一定的物理分析。
更新日期/Last Update: